应我院邀请，6月19日至21日期间，上海易渊图像技术有限公司技术总监王郑耀工程师在砺志楼105作了《视觉检测的发展趋势》、《尺寸测量相关技术问题》、《缺陷检查相关技术问题》和《通用机器视觉软件体系》的系列报告。相关老师和学生聆听了报告，报告由冯晓霞教授主持。  

在《视觉检测的发展趋势》报告中，王老师主要介绍了以苹果手机为代表的手机工艺和手机视觉检测技术目前的发展趋势。

在《尺寸测量相关技术问题》报告中，王老师首先介绍了有关手机尺寸测量技术所采用的一些指标，如加工公差、制程能力CPK等。紧接着王老师介绍了尺寸测量需求和测量工具的准确性及结构件的互配问题等。

在《缺陷检查相关技术问题》报告中，王老师主要介绍了一些缺陷检测技术，如三维检测技术、电子元器检测技术等等。

在《通用机器视觉软件体系》报告中，王老师主要介绍了通用视觉软件的定位、外设硬件、外部通讯、工程文件、流程单元与图像单元等等。

报告结束后，在座的老师和学生就相关研究问题进行了探讨和交流。

王郑耀，1999-2006年在西安交通大学理学院计算数学系完成了本科和硕士学业，研究领域为函数逼近与小波分析和视觉信息处理。2006年加入法视特（上海）图像科技有限公司从事工业自动化机器视觉行业，历任算法开发工程师、开发部副部长，主要负责底层图像处理算法开发，利用视觉方法对生产线上经过的物体的外表面进行测量和表面检查。2014年底加入上海华为技术有限公司，负责手机精密测量与检测设备开发。2017年1月离开华为，返回机器视觉行业创业，现任上海易渊图像技术有限公司技术总监。2004年，首届全国部分高校研究生数学建模竞赛一等奖。2007、2008年，两次获得日本精密工业协会图像应用技术专门委员会组织的外观检查竞赛第一名。2016年1月，获得华为技术有限公司2012实验室2015年度总裁奖（最佳技术贡献个人）。